Ученые МГТУ «Станкин» превратили учебный стенд в точный измеритель

Проект вырос из программы «Приоритет-2030», объединив наработки кафедры измерительных информационных систем и технологий. В отличие от громоздких газовых лазеров, применяемых в промышленности, инженеры использовали доступный полупроводниковый диод. Несмотря на опасения по поводу температурных искажений, команде удалось добиться точности измерений в 0,3 микрона. В планах разработчиков — довести дискретность отсчета до 0,016 микрона за счет интерполяции сигналов с фотоприемников.

Полученные данные позволят создать прибор для поверки концевых мер длины — эталонных металлических брусков, используемых на заводах. По словам профессора Дмитрия Мастеренко, текущая точность в 0,03 микрона полностью перекрывает потребности метрологических лабораторий, где прибор будет эксплуатироваться в контролируемых условиях. Важной особенностью разработки стала методика «теплового паспорта», позволяющая фиксировать микроскопические деформации оборудования. Интеграция современных микроконтроллеров, включая отечественный чип «Амур», упростила обработку данных, а вовлечение студентов в реальные научные эксперименты вместо рутинных лабораторных работ стало важным элементом образовательного процесса.