Технологии

Huiran Microelectronics выпустила CD-SEM для 14-нм чипов

Huiran Microelectronics выпустила CD-SEM для 14-нм чипов

Председатель совета директоров компании Ван Чжиганг подчеркнул, что разработка стала возможной после преодоления сложностей с технологической интеграцией, накоплением производственного опыта и выстраиванием цепочки поставок. Внедрение собственной измерительной техники позволяет китайским производителям снизить зависимость от зарубежного оборудования на критических этапах литографии.

Ключевым преимуществом новой системы стала интеграция алгоритмов искусственного интеллекта. За счет глубокого обучения нейросетей инженерам удалось сократить время анализа изображений: один кадр теперь дает детализацию, сопоставимую с результатом обработки 64 снимков. По оценкам разработчиков, этот метод ускоряет производственный цикл более чем в 10 раз, позволяя эффективнее выявлять дефекты на стадии травления и формирования слоев.

Поделиться

Комментарии (0)

Оставить комментарий

Пока нет комментариев. Будьте первым!